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簡(jiǎn)要描述：APD-QE 采用了光束空間強度技術(shù)，利用 ASTM 標準制定的「Irradiance Mode」測試方式，與各種先進(jìn)探尖臺形成完整的微米級光感測器全光譜效率測試解決方案。APD-QE 已被應用于多種先進(jìn)光感測器的測試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測器、Apple Watch 血氧光感測器、TFT 影像感測器、源動(dòng)態(tài)圖元感測器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線(xiàn)感測器等。
產(chǎn)品型號：APD-QE廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2024-06-28訪(fǎng) 問(wèn) 量： 102產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細介紹
| 品牌 | Enlitech | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 測量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
| 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源 |
使用均勻光源的「照度模式」（Irradiance Mode） 符合ASTM E1021
取代傳統聚焦小光源，可以測試等級光電子檢測器。
均勢光斑可以克服色散差與像差的問(wèn)題，可準確測量得EQE曲線(xiàn)
可搭配多種探針系統，實(shí)現非破壞性的快速測試。
整合光學(xué)與測試系統，提高系統搭建效率。
一體式自動(dòng)化測試軟件，自動(dòng)光譜保存與檢測，工作效率高。
測試特性：
– 環(huán)境效率 EQE
– 光譜回應 SR
– IV 曲線(xiàn)檢測
– NEP 光譜檢測
– D* 光譜檢測
– 噪聲-電流-頻率響應圖（A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz）
– Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
專(zhuān)業(yè)技術(shù)
定制化光斑尺寸與光強度光焱科技APD-QE光譜儀量子效率檢查系統在光束直達25mm光束尺寸、工作距200mm條件下檢查，可以達到光強度與光均強度如下。在波長(cháng)530nm時(shí)，光強度可以達到82.97uW/(cm 2 )。
| 波長(cháng) (納米) | 半高寬（nm） | 光均U%=(Mm)/(M+m) | |
| 5毫米×5毫米 | 3毫米×3毫米 | ||
| 470 | 17.65 | 1.6％ | 1.0％ |
| 530 | 20.13 | 1.6％ | 1.2％ |
| 630 | 19.85 | 1.6％ | 0.9％ |
| 1000 | 38.89 | 1.2％ | 0.5％ |
| 1400 | 46.05 | 1.0％ | 0.5％ |
| 1600 | 37.40 | 1.4％ | 0.7% |
在光斑直徑25mm、工作距200mm條件下，APD-QE探測器量子效率測試系統測量的光均強度。
光焱科技具備自主光學(xué)設計能力。光斑與光強度在內容中，可以接受客製化，如有需要與我們聯(lián)繫。
定量控制功能
APD-QE 光感測器量子效率檢測系統具有「定量」功能（選配），用戶(hù)可以透過(guò)控制各個(gè)單色光子數，讓各波長(cháng)光子數都一樣，并進(jìn)行測試。這也是光感測科技 APD-QE 光感測器量子效率檢測系統的獨到技術(shù)，其他廠(chǎng)商都做不到。
使用定量子數控制模式（CP控制模式），子數變化可以 < 1%
統一系統與探針整合
| 可量測 | 可客裂解 |
|---|---|
| 1.最終光強校正 | ．客化暗箱 |
| 2.光譜響應測定 | ．XYZ軸位移平臺 |
| 3.外部量子效率（EQE） | ．定制探針臺整合服務(wù)． |
| 4.NEP 光譜 | |
| 5.D*光譜 | |
| 6.噪音-電流-頻率響應圖(A/Hz -1/2 ) | |
| 7.Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析 | |
| 8.IV 曲線(xiàn)測試 ．不同光IV 曲線(xiàn)測試 ．定電流/電壓，電壓/電流間變化測試 ．照光條件下 |
采用了利傅立葉光學(xué)元件均光系統，可將單色光強度空間分布均勢化。在 10mm x 10mm 面積以 5 x 5 檢測光強度分，不一致勢在 470nm、530nm、630nm、850nm 均可小於 1%。在 20mm x 20mm 面積以 10 x 10 矩檢測光強度分，不一致勢可以小於 4%。
PDSW軟件采用全新SW-XQE軟件平臺，可進(jìn)行多種自動(dòng)化檢測，包含EQE、SR、IV、NEP、D*、速率雜訊電流圖（A/Hz1/2）、雜訊分析等。
EQE測試功能，可以進(jìn)行不同單色波長(cháng)測試，并且可以自動(dòng)測試全光譜EQE。
軟體可支持多種 SMU 控制，自動(dòng)進(jìn)行光照 IV 測試以及暗態(tài) IV 測試，并支持多圖顯示。
相對于其它 QE 系統，APD-QE 可以直接檢測并得到 D* 與 NEP。
升級FETOS軟件操作界面（選配），可測試3端與4端的Photo-FET組件。
APD-QE 系統由其出色的光學(xué)系統設計，可以組成多種探針臺。全波長(cháng)光譜儀的所有光學(xué)元件都集成在精巧的系統中。單色光學(xué)儀引到探針臺遮光罩盒。圖像顯示了 MPS-4-S 基本探針臺組件，帶有 4 英寸真空吸入盤(pán)和 4 個(gè)帶有低噪音三軸電子的探針微定位器。
集成探針臺顯示微鏡，手動(dòng)滑動(dòng)切換到被測試設備的位置。使用滑動(dòng)條件后，單色光源器被「固定」在設計位置。顯示微圖像可以顯示于屏幕上，方便用戶(hù)進(jìn)行良好的連接。
A. 定制化隔離遮光箱。
B. 由于先進(jìn)的PD估算響應速度，所以有效面積就要?。ń档腿萘啃剩?，因此，有很多需要整合探針臺的需求。
C. 可整合不同的半導體分析儀器如4200或E1500。
LiDAR 中的光電探測器
– InGaAs 光電二維 / SPAD
蘋(píng)果手錶光能電感測器
用於高增益感和成像光電二極體門(mén)控電晶體
高頻電感增益和填充系數光學(xué)靈敏度分析儀
高靈敏程度間轉換X射線(xiàn)探測器表徵
矽光學(xué)
– InGaAs APD
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