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光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個(gè)完整的系統，可以幫助科學(xué)家測量、計算和分析工作中的太陽(yáng)能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進(jìn)提供思路。

LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe測試系統適用測試PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致發(fā)光量子產(chǎn)率)。 PLQY 是評價(jià)發(fā)光材料的重要指標，除了可以用來(lái)對材料進(jìn)行初級分類(lèi)的基本參數，且對于發(fā)光系統與其載子動(dòng)力學(xué)的重要分析方法。

在半導體器件中，不完好的結晶度往往會(huì )導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學(xué)和電學(xué)性能。由于帶隙中的吸收系數極低，產(chǎn)生的光電流信號也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測系統。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統。它利用傅里葉變換信號處理技術(shù)來(lái)增強和突破光電流信號檢測極限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 個(gè)量級）*。

光焱科技QE-R量子效率測試系統采用了高效的橢圓反射器，比傳統的球形透鏡和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主體內集成了所有光學(xué)和機械部件，節省了大量實(shí)驗室空間，但仍保持了各種類(lèi)型的太陽(yáng)能電池測試夾具的靈活性。并且也提供簡(jiǎn)單而完整的手套箱集成方案。

APD-QE 采用了光束空間強度技術(shù)，利用 ASTM 標準制定的「Irradiance Mode」測試方式，與各種先進(jìn)探尖臺形成完整的微米級光感測器全光譜效率測試解決方案。APD-QE 已被應用于多種先進(jìn)光感測器的測試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測器、Apple Watch 血氧光感測器、TFT 影像感測器、源動(dòng)態(tài)圖元感測器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線(xiàn)感測器等。

激光掃描缺陷成像儀是激光束感應電流（LBIC）測試的升級版本。它利用波長(cháng)能量大于半導體帶隙的激光束照射半導體，產(chǎn)生電子空穴對。通過(guò)快速掃描樣品表面，獲得揭示內部電流變化的圖像分布，從而分析各種缺陷分布。這有助于分析樣品制備的質(zhì)量并有助于工藝改進(jìn)。